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太陽能電池表面光學特性量測系統

宏明科技有限公司(光學薄膜厚度)


聯絡人:黃小姐
電話:(02)86751543
傳真:(02)86751545
地址:新北市樹林區中山路一段390號
網址:http://www.hmtech.com.tw



產品資訊

產品說明

符合標準: ASTM 903, CIE130–1998, NREL實驗室標準
量測項目: 穿透率、穿透散射率、反射率、反射散射率、表面粗糙度及抗反射膜厚度(SiNOx, SiO2)
適用波長: 380–950nm (standard), 380–1100nm, 380–1700nm (option)
適用樣品: 單多晶矽太陽能電池晶片、薄膜太陽能電池晶片、SiNOx、SiO2、Amorphous、TCO薄膜

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