檢測功能：薄膜厚度、反射率波長範圍：380–800nm膜厚精度：1nm厚度範圍：300–400,000 Angstrom (依樣品不同而異)檢測速度：1–3 sec檢測平台：10cm×10cm手動式XY滑台光源：鹵素燈380–800nm適用樣品：光學鍍膜(如SiO2, NOx, ITO, ZnO, CuO 等玻璃、壓克力、PET and Silicon wafer)、GaN on Sapphire、彩色濾光片、Solar cell、偏光片等。