產品說明
三豐雷射測定儀
model:LSM-503SLSM6200
測定範圍:0.3-30mm
解析度:0.02um-100um
重複定位精度:±0.1um
直線性20°C:±1um
定位誤差:±1.5um
測定領域:10×30mm
雷射掃描回數回/秒:3200
雷射波長nm:650nm
雷射掃描速度m/s:226
操作溫度:0°C - 40°C
操作濕度:35° - 85° RH
國際保護等級:IP64
測量功能:
1.自動工件偵測
2.預設值及補值的設定
3.樣本測量最大值,最小值,平均值
4.區段或邊緣測量
5.異常資料的排除例如:灰塵
6.可設定資料輸出的間隔時間
7.同步測量
8.多組GO/NG判別
測量應用:
1.測量圓柱的外徑或圓筒率
2.測量透明的薄膜或薄片
3.測量IC 晶片PIN角的間隔
4.測量薄片膜的厚度
5.測量雷射唱片或磁片的磁頭裝置
6.測量滾軸之間的間隔
7.測量磁帶的寬度